Свойства полупроводников, расчет характеристик p-n-перехода. 2

МИНИСТЕРСТВО  ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Федеральное государственное бюджетное учреждение высшего профессионального образования

«Забайкальский  государственный университет»

(ФГБО  УВПО «ЗабГУ»)

Кафедра Физики и техники связи 
 
 
 
 

КУРСОВОЙ  ПРОЕКТ 
 
 
 

                 К защите______________________________________________

                                                                     подпись                                                                                      дата

                Защищено на оценку__________________________________

                                        

                Члены комиссии:_____________________________________

                                                       подпись                                                                      дата

                                              _____________________________________

                                                    подпись                                             дата

                                              _____________________________________

                                                    подпись                                                                     дата 
 

Чита 2012

Задание

На курсовой проект по дисциплине

«Физические основы электроники»

Студенту  группы ТКб-10

      Анганзорову Руслану Владимировичу

      Тема  курсового проекта: «Свойства полупроводников, расчет характеристик p-n-перехода»

Исходные  данные:

∆E, эВ 0,8
∆Ed , эВ 0,035
∆Ea ,эВ 0,03
Nd , м-1 5*1020
Na , м-1 5*1021
mn*/mo 0,9
mp*/mo 0,4
ε, В/м 10
µn , см2/(В*с) 3500
µp  , см2/(В*с) 1000
τn = τp , с 100*10-6

 

Физические  и математические постоянные:

Постоянная  Планка
Элементарный  заряд
Масса покоя электрона
Постоянная  Больцмана
Число пи
Число е
Электрическая постоянная
 
 

           Дата выдачи задания «____»________________________________2011

      Дата  представления работы руководителю «____»______________2011

      УТВЕРЖДАЮ

      Руководитель  курсовой работы

      ___________________________ 
 
 
 

      ГРАФИК

      Выполнения  курсового проекта по дисциплине

      «Физические основы электроники»

п/п Объем выполняемых

работ

недели
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18
1 Оформление  задания +                                  
2     +                                
3     + +                              
4         + + + +                      
5           + + + +                    
6                                      
                + + + + +              
                      + + + + +        
7 Оформление                             + +    
8 Защита работы                                 + +
 
 

 

   МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ  РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

 Федеральное государственное бюджетное учреждение высшего профессионального образования

  ЗАБАЙКАЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

  (ФГБО  УВПО ЗабГУ)

  Кафедра Физики и техники связи (ФиТС) 
 
 

  ПОЯСНИТЕЛЬНАЯ ЗАПИСКА

  к курсовому проекту по дисциплине

  «Физические основы электроники»

  На  тему:

  «Свойства полупроводников, расчет характеристик  p-n-перехода»

  Проектировал:

  студент группы ТКб-10 Анганзоров Руслан Владимирович

  Руководитель  курсовой работы:

  Дружинин  Анатолий Прокопьевич. 
 
 
 
 
 

Содержание 

      Введение………………………………………………………………………7

      №1. Расчет температурной зависимости  концентрации равновесных  носителей заряда в собственном  полупроводнике…………..…………….…..…8

      №2. Расчет температурной зависимости  уровня Ферми в собственном полупроводнике…………………………………………………………………..…10

      №3. Расчет температуры ионизации донорной примеси Тs и ионизации основного вещества Тi в полупроводнике n тока методом последовательных приближений………………………………………………………………………..11

      №4. Расчет температуры ионизации Тs и Тi в акцепторном полупроводнике методом последовательных приближений…………………....13

      №5. Расчет температурной зависимости  положения уровня Ферми Ef(T) в донорном полупроводнике………………………………………………………...15

      №6. Расчет критической концентрации вырождения донорной  примеси……………………………………………………………………………..19

      №7. Расчет равновесной концентрации основных и неосновных носителей тока в  p-n и n – областях p-n перехода при температуре Т=300К.....19

      №8. Нахождение высоты потенциального барьера  равновесного p-n-перехода и контактную разность потенциалов…………………………………..21

      №9. Нахлждение положения уровней Ферми в p-n-перехода и n-областях относительно потолка зоны проводимости и дна валентной зоны соответственно……………………………………………………………………..21

      №10. Нахождение толщины p-n-перехода в равновесном  состоянии (Т=300К)………………………………………………………………………….....22

      №11. Определение толщины пространственного заряда в p-n-областях..22

      №12. Построение графика 5 «Энергетическая  диаграмма p-n-перехода в равновесном  состоянии»…………………………………………………………..23

      №13. Нахождение максимальной напряженности  электрического поля   в равновесном p-n-переходе. Построение графика 6 «Зависимость напряженности электростатического  поля от расстояния в p-n-переходе»….............................. 23

      №14. Нахождение падение потенциала в p-n-областях пространственного заряда p-n-перехода………………………………………… ……………………24

      №15. Построение графика 6 «Зависимость потенциала в p-n-областях от расстояния»………………………………………………………………………...25

      №16. Вычисление барьерной емкости p-n-перехода в расчете на S=1 см²…………………………………………………………………………………...26

      №17. Вычисление коэффициента диффузии для  электронов и дырок ( в см²/с) и  диффузионную длину для электронов и дырок……………………….  27

      №18. Вычисление электропроводности и удельного  сопротивления собственного полупроводника, полупроводника n-и p-типа……………………28

      №19. Определение величины плотности  обратного тока p-n-перехода....29

      №20. Построение обратной ветви ВАХ p-n-перехода, Т=300 К………....30

      №21. Построение прямой ветви ВАХ p-n-перехода, Т=300 К…………...31

      №22. Вычисление отношения jпр/jобри…………………………………. 32

      Заключение……………………………………………………………….…34

                          Список литературы………………………………………………….......................................……....35 
 

     Введение:

     Роль  электроники  в современной науке  возрастает.

       Развитие электроники приводит  к появлению новых полупроводниковых  приборов, интегральных схем, без которых невозможно существование таких отраслей, как телевидение, робототехника, различные системы связи, медицинская техника.

     Теоретической  основой  электроники являются  современные представления физики твердого тела и физики полупроводников, объясняющие

     сложные процессы, происходящие в различных  полупроводниковых структурах

     и в контактах различных типов  полупроводников.

     Целью данной курсовой работы является определение свойств полупроводников  и характеристик  p-n перехода. 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

1. Расчет температурной зависимости концентрации равновесных носителей заряда в собственном  полупроводнике. 

Исходные формулы:

 

а)  Получение  расчетной формулы:

;

 

Пример вычисления:

 = 1,9277*10-3 м-3

= -6,2514 
 

б) Результаты расчетов :

                                              Таблица 1

Концентрация  равновесных носителей заряда в  собственном полупроводнике

T,K 1/T,K -1   KT,эВ n0 , м -3 ln n0
75 1,33*10-2   6,46*10-3 1,9277*10-3 -6,2514
100 1*10-2   8,62*10-3 1,5564*104 9,6527
120 8,33*10-3   1,03*10-2 4,6851*107 17,662
150 6,67*10-3   1,29*10-2 1,4994*1011 25,734
200 5*10-3   1,72*10-2 5,2864*1014 33,901
300 3,33*10-3   2,59*10-2 2,2240*1018 42,246
400 2,5*10-3   3,45*10-2 1,6385*1020 46,546
500 2*10-3   4,31*10-2 2,3322*1021 49,201
 
 

в) График зависимости равновесной конфигурации носителей тока от температуры в координатах (ln n0 ; 1/Т) : 

График 1

Зависимость равновесной конфигурации носителей тока от температуры 
 

г) Проверка правильности построения графика:

 

2. Расчет температурной зависимости уровня Ферми в собственном полупроводнике. 

Расчётная формула:      

,     

Пример вычисления:

а) Результаты расчетов:

Таблица 2

Зависимость Ef(T) в собственном полупроводнике

T,K KT,эВ Ef,эВ Ef/Efо*100%
0 0 0,4 100
100 0,008617375 0,394758933 98,68973314
200 0,01723475 0,389517865 97,37946628
300 0,025852126 0,384276798 96,06919942
400 0,034469501 0,37903573 94,75893256
500 0,043086876 0,373794663 93,4486657
 
 

б) График зависимости Ef  от T в собственном полупроводнике: 

График 2

Зависимость Ef(T) в собственном полупроводнике

 

3. Расчет температуры ионизации донорной примеси Тs и ионизации основного вещества Тi в полупроводнике n-типа методом последовательных приближений. В качестве начальных температур использовать значения Ti =400 К ,Ts=50 К. 

Расчётные формулы: 

                      

             .

Пример вычисления: 

 

Результаты расчетов: 

Таблица 3

Расчет температуры  Ti для донорного полупроводника

N приб. 1 2 3 4 5 6 7
Ti, K 400 443 436,23 437,124 436,9993 437,016 437,014
Nc*1025 3,2987 3,8387 3,75700 3,7684 3,7668 3,7670 3,7670
Nv*1025 0,9773 1,1374 1,1131 1,1165 1,1160 1,1161 1,1161
               
 

Таблица 4 

Расчет температуры  Ts для донорного полупроводника

N приб. 1 2 3 4 5 6 7
Ts,K 50 46,841 47,376 47,282 47,298 47,295 47,296
Nc*1023 14,578 13,219 13,446 13,406 13,413 13,412 13,412
Nv*1023 4,3195 3,9166 3,9839 3,9720 3,9741 3,9738 3,9738
 
 

4. Расчет температуры ионизации Тs и Тi в акцепторном полупроводнике методом последовательных приближений. 

Расчетные формулы: 

Пример вычисления:  

 

 

Результаты  расчетов:                                                                                  

Таблица 5

Расчет температуры  Ti для акцепторного полупроводника

N приб. 1 2 3 4 5 6 7
Ti, K 400 567,023 532,948 538,697 537,693 537,867 537,837
Nc*1025 3,2987 5,5674 5,07318 5,15550 5,1410 5,1435 5,1431
Nv*1025 0,9773 1,6496 1,5031 1,5275 1,5232 1,5240 1,5239
               
 

Расчет температуры  Ts для акцепторного полупроводника

N приб. 1 2 3 4 5 6 7
Ts,K 50 67,5722 62,1241 63,5546 63,1611 63,268 63,2388
Nv*1023 4,3195 6,7863 5,9824 6,1901 6,1327 6,1483 6,14407
 
 

5. Расчет температурной зависимости положения уровня Ферми Ef(T) в донорном полупроводнике. 

а) Для низкотемпературной области используем формулу: 

   
 

Пример вычисления:  

 
 

Результаты  расчетов:

Таблица 5

Зависимость Ef(T) в донорном полупроводнике (область низких температур)

T,K 5 10 20 30 40 47,3
KT,эВ 4,31*10-4 8,62*10-4 1,72*10-3 2,6*10-3 3,5*10-3 4,07*10-3
Nc,м-3 4,6*1022 1,3*1023 3,7*1023 6,8*1023 1,1*1024 1,34*1024
Ef,эВ -0,0186 -0,0201 -0,0237 -0,0277 -0,0318 -0,035
 

График 3

Зависимость Ef(T) для полупроводника n-типа в области низких температур

 

б) Для низкотемпературной области найдем положение максимума зависимости Ef(T), т.е. вычислить и  

Пример  вычисления:

в) Для области средних температур используем формулу:

Пример вычисления:

 
 

Результаты расчетов:

Таблица 6

Зависимость Ef(T) в донорном полупроводнике (область низких температур)

T,K 100 150 200 250 300 350 437,01
KT,эВ 0,009 0,013 0,018 0,022 0,026 0,03 0,038
Nc,м-3 4,2*1024 7,6*1024 1,2*1025 1,6*1025 2,2*1025 2,7*1025 3,8*1025
Ef,эВ -0,0777 -0,1244 -0,1733 -0,2238 -0,2757 -0,3286 -0,422
 

г) В области высоких температур использовать формулу:

,   

Пример вычисления: 

 
 

Результаты расчетов:

Таблица 7

Зависимость Ef(T) в донорном полупроводнике(область высоких температур)

T,К 400 450 500 550
KT,эВ 0,0345 0,0388 0,0431 0,0474
Ef,эВ -0,421 -0,4236 -0,4262 -0,4288
 
 

д) Построим график 

График 4

Температурная зависимость Ef для донорной примеси

 

6. Расчет критической  концентрации вырождения  данной примеси.