Свойства полупроводников, расчет характеристик p-n-перехода. 2
МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Федеральное
государственное бюджетное
«Забайкальский государственный университет»
(ФГБО УВПО «ЗабГУ»)
Кафедра
Физики и техники связи
КУРСОВОЙ
ПРОЕКТ
К защите______________________
Защищено на оценку____________
Члены комиссии:_______________
Чита 2012
Задание
На курсовой проект по дисциплине
«Физические основы электроники»
Студенту группы ТКб-10
Анганзорову Руслану Владимировичу
Тема курсового проекта: «Свойства полупроводников, расчет характеристик p-n-перехода»
Исходные данные:
| ∆E, эВ | 0,8 |
| ∆Ed , эВ | 0,035 |
| ∆Ea ,эВ | 0,03 |
| Nd , м-1 | 5*1020 |
| Na , м-1 | 5*1021 |
| mn*/mo | 0,9 |
| mp*/mo | 0,4 |
| ε, В/м | 10 |
| µn , см2/(В*с) | 3500 |
| µp , см2/(В*с) | 1000 |
| τn = τp , с | 100*10-6 |
Физические и математические постоянные:
| Постоянная Планка | |
| Элементарный заряд | |
| Масса покоя электрона | |
| Постоянная Больцмана | |
| Число пи | |
| Число е | |
| Электрическая постоянная |
Дата выдачи задания «____»________________________
Дата представления работы руководителю «____»______________2011
УТВЕРЖДАЮ
Руководитель курсовой работы
________________________
ГРАФИК
Выполнения курсового проекта по дисциплине
«Физические основы электроники»
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И
Федеральное
государственное бюджетное
ЗАБАЙКАЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
(ФГБО УВПО ЗабГУ)
Кафедра
Физики и техники связи (ФиТС)
ПОЯСНИТЕЛЬНАЯ ЗАПИСКА
к курсовому проекту по дисциплине
«Физические основы электроники»
На тему:
«Свойства полупроводников, расчет характеристик p-n-перехода»
Проектировал:
студент группы ТКб-10 Анганзоров Руслан Владимирович
Руководитель курсовой работы:
Дружинин
Анатолий Прокопьевич.
Содержание
Введение…………………………………………
№1.
Расчет температурной зависимости
концентрации равновесных носителей
заряда в собственном полупроводнике…………..…………….…..…
№2.
Расчет температурной зависимости
уровня Ферми в собственном
№3.
Расчет температуры ионизации донорной
примеси Тs и ионизации основного
вещества Тi в полупроводнике n тока методом
последовательных приближений…………………………………………………
№4. Расчет температуры ионизации Тs и Тi в акцепторном полупроводнике методом последовательных приближений…………………....13
№5.
Расчет температурной зависимости
положения уровня Ферми Ef(T) в донорном
полупроводнике…………………………………………
№6.
Расчет критической концентрации вырождения
донорной примеси……………………………………………………………
№7. Расчет равновесной концентрации основных и неосновных носителей тока в p-n и n – областях p-n перехода при температуре Т=300К.....19
№8. Нахождение высоты потенциального барьера равновесного p-n-перехода и контактную разность потенциалов…………………………………..21
№9.
Нахлждение положения уровней Ферми в
p-n-перехода и n-областях относительно
потолка зоны проводимости и дна валентной
зоны соответственно…………………………………………
№10.
Нахождение толщины p-n-перехода в равновесном
состоянии (Т=300К)…………………………………………………………
№11.
Определение толщины
№12.
Построение графика 5 «Энергетическая
диаграмма p-n-перехода в равновесном
состоянии»……………………………………………………
№13.
Нахождение максимальной напряженности
электрического поля в равновесном
p-n-переходе. Построение графика 6 «Зависимость
напряженности
№14. Нахождение падение потенциала в p-n-областях пространственного заряда p-n-перехода………………………………………… ……………………24
№15.
Построение графика 6 «Зависимость потенциала
в p-n-областях от расстояния»…………………………………………………
№16.
Вычисление барьерной емкости p-n-перехода
в расчете на S=1 см²………………………………………………………………………
№17. Вычисление коэффициента диффузии для электронов и дырок ( в см²/с) и диффузионную длину для электронов и дырок………………………. 27
№18. Вычисление электропроводности и удельного сопротивления собственного полупроводника, полупроводника n-и p-типа……………………28
№19. Определение величины плотности обратного тока p-n-перехода....29
№20. Построение обратной ветви ВАХ p-n-перехода, Т=300 К………....30
№21. Построение прямой ветви ВАХ p-n-перехода, Т=300 К…………...31
№22. Вычисление отношения jпр/jобри…………………………………. 32
Заключение……………………………………
Список литературы…………………………………
Введение:
Роль электроники в современной науке возрастает.
Развитие электроники приводит
к появлению новых
Теоретической основой электроники являются современные представления физики твердого тела и физики полупроводников, объясняющие
сложные процессы, происходящие в различных полупроводниковых структурах
и в контактах различных типов полупроводников.
Целью
данной курсовой работы является определение
свойств полупроводников и характеристик
p-n перехода.
1.
Расчет температурной
зависимости концентрации
равновесных носителей
заряда в собственном
полупроводнике.
Исходные формулы:
а) Получение расчетной формулы:
;
Пример вычисления:
= 1,9277*10-3 м-3
= -6,2514
б) Результаты расчетов :
Концентрация равновесных носителей заряда в собственном полупроводнике
| T,K | 1/T,K -1 | KT,эВ | n0 , м -3 | ln n0 | |
| 75 | 1,33*10-2 | 6,46*10-3 | 1,9277*10-3 | -6,2514 | |
| 100 | 1*10-2 | 8,62*10-3 | 1,5564*104 | 9,6527 | |
| 120 | 8,33*10-3 | 1,03*10-2 | 4,6851*107 | 17,662 | |
| 150 | 6,67*10-3 | 1,29*10-2 | 1,4994*1011 | 25,734 | |
| 200 | 5*10-3 | 1,72*10-2 | 5,2864*1014 | 33,901 | |
| 300 | 3,33*10-3 | 2,59*10-2 | 2,2240*1018 | 42,246 | |
| 400 | 2,5*10-3 | 3,45*10-2 | 1,6385*1020 | 46,546 | |
| 500 | 2*10-3 | 4,31*10-2 | 2,3322*1021 | 49,201 |
в) График
зависимости равновесной
График 1
Зависимость равновесной конфигурации
носителей тока от температуры
г) Проверка правильности построения графика:
2.
Расчет температурной
зависимости уровня
Ферми в собственном
полупроводнике.
Расчётная формула:
,
Пример вычисления:
а) Результаты расчетов:
Таблица 2
Зависимость Ef(T) в собственном полупроводнике
| T,K | KT,эВ | Ef,эВ | Ef/Efо*100% |
| 0 | 0 | 0,4 | 100 |
| 100 | 0,008617375 | 0,394758933 | 98,68973314 |
| 200 | 0,01723475 | 0,389517865 | 97,37946628 |
| 300 | 0,025852126 | 0,384276798 | 96,06919942 |
| 400 | 0,034469501 | 0,37903573 | 94,75893256 |
| 500 | 0,043086876 | 0,373794663 | 93,4486657 |
б) График зависимости
Ef от T в собственном полупроводнике:
График 2
Зависимость Ef(T) в собственном полупроводнике
3.
Расчет температуры
ионизации донорной
примеси Тs и ионизации
основного вещества
Тi в полупроводнике
n-типа методом последовательных
приближений. В качестве начальных температур
использовать значения Ti =400 К ,Ts=50 К.
Расчётные формулы:
.
Пример вычисления:
Результаты расчетов:
Таблица 3
Расчет температуры Ti для донорного полупроводника
|
Таблица
4
Расчет температуры Ts для донорного полупроводника
| N приб. | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 |
| Ts,K | 50 | 46,841 | 47,376 | 47,282 | 47,298 | 47,295 | 47,296 |
| Nc*1023 | 14,578 | 13,219 | 13,446 | 13,406 | 13,413 | 13,412 | 13,412 |
| Nv*1023 | 4,3195 | 3,9166 | 3,9839 | 3,9720 | 3,9741 | 3,9738 | 3,9738 |
4.
Расчет температуры
ионизации Тs и Тi в акцепторном
полупроводнике методом
последовательных приближений.
Расчетные формулы:
Пример вычисления:
Результаты
расчетов:
Таблица 5
Расчет температуры Ti для акцепторного полупроводника
|
Расчет температуры Ts для акцепторного полупроводника
| N приб. | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 |
| Ts,K | 50 | 67,5722 | 62,1241 | 63,5546 | 63,1611 | 63,268 | 63,2388 |
| Nv*1023 | 4,3195 | 6,7863 | 5,9824 | 6,1901 | 6,1327 | 6,1483 | 6,14407 |
5.
Расчет температурной
зависимости положения
уровня Ферми Ef(T)
в донорном полупроводнике.
а) Для низкотемпературной
области используем формулу:
Пример вычисления:
Результаты расчетов:
Таблица 5
Зависимость Ef(T) в донорном полупроводнике (область низких температур)
| T,K | 5 | 10 | 20 | 30 | 40 | 47,3 |
| KT,эВ | 4,31*10-4 | 8,62*10-4 | 1,72*10-3 | 2,6*10-3 | 3,5*10-3 | 4,07*10-3 |
| Nc,м-3 | 4,6*1022 | 1,3*1023 | 3,7*1023 | 6,8*1023 | 1,1*1024 | 1,34*1024 |
| Ef,эВ | -0,0186 | -0,0201 | -0,0237 | -0,0277 | -0,0318 | -0,035 |
График 3
Зависимость Ef(T) для полупроводника n-типа в области низких температур
б) Для низкотемпературной
области найдем положение максимума зависимости
Ef(T), т.е. вычислить
и
Пример вычисления:
в) Для области средних температур используем формулу:
Пример вычисления:
Результаты расчетов:
Таблица 6
Зависимость Ef(T) в донорном полупроводнике (область низких температур)
| T,K | 100 | 150 | 200 | 250 | 300 | 350 | 437,01 |
| KT,эВ | 0,009 | 0,013 | 0,018 | 0,022 | 0,026 | 0,03 | 0,038 |
| Nc,м-3 | 4,2*1024 | 7,6*1024 | 1,2*1025 | 1,6*1025 | 2,2*1025 | 2,7*1025 | 3,8*1025 |
| Ef,эВ | -0,0777 | -0,1244 | -0,1733 | -0,2238 | -0,2757 | -0,3286 | -0,422 |
г) В области высоких температур использовать формулу:
,
Пример вычисления:
Результаты расчетов:
Таблица 7
Зависимость Ef(T) в донорном полупроводнике(область высоких температур)
| T,К | 400 | 450 | 500 | 550 |
| KT,эВ | 0,0345 | 0,0388 | 0,0431 | 0,0474 |
| Ef,эВ | -0,421 | -0,4236 | -0,4262 | -0,4288 |
д) Построим график
График 4
Температурная зависимость Ef для донорной примеси
6.
Расчет критической
концентрации вырождения
данной примеси.