Ирина Эланс
Заказ: 1143108
Дифракционная решетка содержит 120 штрихов на 1 мм. Найти длину волны монохроматического света, падающего на решетку, если угол между двумя спектрами первого порядка равен 8°
Дифракционная решетка содержит 120 штрихов на 1 мм. Найти длину волны монохроматического света, падающего на решетку, если угол между двумя спектрами первого порядка равен 8°
Описание
Подробное решение
- Дифракционная решетка содержит n = 200 штрихов на миллиметр длины. Найти зависимость угловой дисперсии решетки от длины волны в первом порядке дифракции, если свет падает на решетку: а) нормально; б) под углом θ=45° к нормали.
- Дифракционное изображение удаленного точечного источника получено в фокальной плоскости объектива. Оценить, как изменится освещенность в центре изображения, если диаметр входной диафрагмы увеличить в два раза.
- Дифракционную решетку, на каждый миллиметр которой нанесено n = 75 штрихов, освещают монохроматическим светом с длиной волны λ = 500 нм. При этом на экране видны светлые полосы на равных расстояниях друг от друга. Расстояние от центральной светлой полосы на экране до второй полосы h = 1,25 см. Определить расстояние L от решетки до экрана.
- Дифракционные явления в оптических инструментах. (реферат)
- Дифракция - пучок света, отраженный от стеклянной пластинки
- Дифракция света
- Дифференциал. Дифференциалы высших порядков. Дифференциал - линейная часть приращения функции
- Дистанционное обслуживание клиентов в коммерческом банке (Дипломная работа - ВКР)
- Дистанционные защиты (реферат по дисциплине « Релейная защита и автоматизация электроэнергетических систем»)
- Дифракционная решетка
- Дифракционная решетка
- Дифракционная решетка как спектральный прибор. Формула для определения числа щелей, необходимого для разрешения двух близких длин волн.
- Дифракционная решетка, освещенная нормально падающим монохроматическим светом, отклоняет спектр второго порядка на угол 8°. На какой угол она отклонит спектр третьего порядка?
- Дифракционная решетка. Примерная картина дифракции. Выражение для определения положения главных максимумов на картине дифракции
