Разработка аппаратной части системы автокалибровки и измерения скалярных параметров СВЧ устройств на базе современных микроконтроллеров. (курсовая работа)

СОДЕРЖАНИЕ


РЕФЕРАТ 4
ВВЕДЕНИЕ 7
1 Описание технологического процесса 9
1.1 Классификация аппаратуры измерения комплексных параметров СВЧ сигнала 9
1.2 Основные характеристики применяемых измерительных приборов 9
1.3 Краткое описание процесса измерения 10
1.4 Экономическое обоснование 12
2 Требования к разрабатываемой системе и постановка задачи 16
2.1 Постановка задачи 16
2.2 Требования к разработке аппаратной части 16
2.3 Требования к разработке программного обеспечения 16
3 Техническое задание 17
3.1 Основание для проектирования 17
3.1.1 Состав каждого комплекта прибора и требования к конструкции 17
3.2 Тактико-технические требования 18
3.2.1 Требования к параметрам и характеристикам измерителей коэффициента передачи и отражения (приборы группы Р2-). 19
3.2.2 Режимы работы приборов группы Р2-. 19
3.2.3 Пределы допускаемой основной погрешности измерений 20
3.2.4 Требования к техническому уровню 21
3.2.5 Требования к надежности 21
3.2.6 Требования к технологичности конструкции 21
3.2.7 Требования к уровню унификации и стандартизации 22
3.2.8 Эстетические и экономические требования 22
3.2.9 Условия эксплуатации. 22
3.2.10 Требования к упаковке и маркировке 22
4 Разработка аппаратной части измерительной системы Р2- «Растр» 23
4.1 Выбор структуры измерительной системы Р2- «Растр» 23
4.2 Обоснование выбора технических средств 25
4.3 Разработка принципиальной схемы 28
5 Расчет надежности 32
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 34
СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМЫХ ИСТОЧНИКОВ 35
Приложение А – Исходные данные для расчета надежности. 37
Приложение Б – Расчет надежности измерительной части Р2- «Растр». 39
СПЕЦИФИКАЦИЯ 40